雙狹縫干涉
簡介
在量子力學裡，雙縫實驗（double-slit experiment）是一種演示光子或電子等等微觀物體的波動性與粒子性的實驗。雙縫實驗是一種「雙路徑實驗」。在這種更廣義的實驗裡，微觀物體可以同時通過兩條路徑或通過其中任意一條路徑，從初始點抵達最終點。這兩條路徑的程差促使描述微觀物體物理行為的量子態發生相移，因此產生干涉現象。另一種常見的雙路徑實驗是馬赫-曾德爾干涉儀實驗。雙縫實驗的基本儀器設置很簡單，將像激光一類的相干光束照射於一塊刻有兩條狹縫的不透明板，通過狹縫的光束，會抵達照相膠片或某種探測屏，從記錄於照相膠片或某種探測屏的輻照度數據，可以分析光的物理性質。光的波動性使得通過兩條狹縫的光束相互干涉，形成了顯示於探測屏的明亮條紋和暗淡條紋相間的圖樣，明亮條紋是相長干涉區域，暗淡條紋是相消干涉區域，這就是雙縫實驗著名的干涉圖樣。在經典力學裡，雙縫實驗又稱為「楊氏雙縫實驗」，或「楊氏實驗」、「楊氏雙狹縫干涉實驗」，專門演示光波的干涉行為，是因物理學者托馬斯·楊而命名。假若，光束是以粒子的形式從光源移動至探測屏，抵達探測屏任意位置的粒子數目，應該等於之前通過左狹縫的粒子數量與之前通過右狹縫的粒子數量的總和。根據定域性原理（principle of locality），關閉左狹縫不應該影響粒子通過右狹縫的行為，反之亦然，因此，在探測屏的任意位置，兩條狹縫都不關閉的輻照度應該等於只關閉左狹縫後的輻照度與只關閉右狹縫後的輻照度的總和。但是，當兩條狹縫都不關閉時，結果並不是這樣，探測屏的某些區域會比較明亮，某些區域會比較暗淡，這種圖樣只能用光波動說的相長干涉和相消干涉來解釋，而不是用光微粒說的簡單數量相加法。
評價
隨着科技的快速進步，現在已發展出來能夠可靠地發射單獨電子的物理儀器。使用這種單獨電子發射器來進行雙縫實驗，可以使得在任意時間最多只有一個電子存在於發射器與探測屏之間，因此，每一次最多只有一個電子通過雙狹縫，而不是一大群電子在很短時間間隔內擠着要通過雙狹縫。值得注意的是，探測屏累積很多次電子衝擊事件之後，會顯示出熟悉的干涉圖樣。從這圖樣可以推論，單獨電子似乎可以同時刻通過兩條狹縫，並且自己與自己干涉。這解釋並不符合平常觀察到的離散物體的物理行為，人們從未親眼目睹老虎在同時刻穿越過兩個並排的火圈，這並不是很容易從直覺就能夠贊同的結果。可是，從原子到更複雜的分子，包括巴基球，這些微觀粒子都會產生類似現象。[1]